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暗视野显微镜在电子设备检测中的应用

暗视野(Dark field)技术,是一种利用散射光进行观测的光学显微技术。样品受侧向光照射时,产生的散射光进入物镜中,从而使观测者能够来分辨样品细节。

暗视野显微镜和一般的明视野显微镜的主要区别在于聚光镜上。暗视野显微镜装有一个遮挡中心的的聚光镜。光不能直射通过聚光镜,只能从聚光镜周围未遮暗的部位斜射到样品上。因光线是斜射的,不能进入物镜,故观察的背景是暗的。样品由于光散射作用,而发出亮光,这样在显微镜中可见到暗视野中明亮的物像。

暗视野技术也可以用于电子设备的检测。由于金属表面高反射性,产生的眩光通常掩盖了表面细节。利用暗视野技术就能很好地解决这一问题。同时,暗视野技术也能有效提高图像的分辨力。

以下是我司金相显微镜MJ33搭配显微镜成像装置MD30实拍的LED PN底板的图片。利用暗视野技术,能够轻易分辨底板上的瑕疵,从而有效地提高产品的质量。

电子设备检测显微图片 
图1:明场-10倍

暗场显微镜 LED
图2:暗场-10X 

50倍金相显微镜
图3:明场-50X

金相显微镜下的LED
图4:暗场50X

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