荧光显微镜|显微镜摄像头|显微镜接口的定义及镜检方式

一、荧光显微镜|显微镜摄像头|显微镜接口的定义
光是一种电磁波，其电磁振动垂直于传播方向。根据振动的特点，可把光分为自然光与偏振光。自然光是一切普通光源所发出的光波，如太阳光、灯光等，其振动特点是在垂直于光波传播方向的平面内，各方向上都有等振幅的振动。

自然光波经过反射、折射、双折射或选择吸收等作用后，可以转变为只在一个固定方向上振动的光波，称平面偏光，简称偏振光或偏光。将自然光转变为偏光的装置称偏光镜。荧光显微镜|显微镜摄像头|显微镜接口是装有两个偏光镜的显微镜。

当光波由一种介质传到另一种介质时，在两种介质的分界面上将产生反射和折射。对折射而言，第一（入射）和第二（折射）介质的特征，可用光波在该二种介质中的传播速度之比——相对折射率来表征，故折射率是鉴定透明矿物的可靠常数之一。

对晶质矿物来说，折射率是受其对称性控制的，即光波在等轴晶系晶体中传播时，虽然发生折射，但其折射率不因光波的振动方向不同而发生改变；在其它晶系晶体中，其传播速度随振动方向不同而发生变化，因而其折射率也因振动方向不同而改变（沿特殊方向入射者除外）。利用荧光显微镜|显微镜摄像头|显微镜接口的不同偏光组合（单偏光、正交偏光、锥光）及附件，可观察和测定上述折射率的变化。

二、荧光显微镜|显微镜摄像头|显微镜接口镜检方式
（一）正相镜检（Orthoscopic）:又称无畸变镜检，特点：使用低倍物镜，不用伯特兰透镜（Bertrand Lens）,同时为使照明孔径变小，移出聚光镜的顶透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性，分为两种观察方式：

（1）单偏光镜下观测：使用起偏镜（或下偏光镜），观测标本的某些外表特征，如形态、解理、颜色、多色性、突起、糙面等。

（2）正交偏光镜下观测：同时使用起偏镜和检偏镜，观测标本的消光和消光位、干涉色和色级、双晶特征等。

（二）锥光镜检（Conoscopic）：又称干涉镜检，使用起偏镜、检偏镜及聚光镜的组合来观察干涉图，以确定矿物的轴性、光性正负、光轴角（2V）等晶体光学特征。在起偏镜上移入聚光镜的顶透镜，使平行偏光束变为锥形偏光束射入标本，经上偏光镜后发生消光和干涉，可以去掉目镜直接观察干涉图像，也可以把伯氏镜与目镜组合成一个望远镜式的放大系统，观察放大的干涉图像。